interface@interface.nsk.su
т. (383) 314-88-13, 314-81-38
630087, г.Новосибирск,
ул. Немировича-Данченко, 138
ГлавнаяПоставка оборудования и ПОСервис-центрЗарегистрированное ПО
Hewled Packard Enterprise
Hewled Packard Inc.e



CISCO Systems Select Certified Partner



APC Authorized Reliability Provider


Разработка ПО

K2 System - статистическое регулирование технологических процессов

Программный комплекс K2 System предназначен для наблюдения за технологическим процессом, анализа работы оборудования, управления качеством выпускаемого продукта.

При помощи K2 System решаются задачи:

  • оценка управляемости и воспроизводимости процесса,
  • обнаружение и поиск источников отклонений от нормального закона распределения.

Пользователями K2 System являются технологи, инженеры по качеству, аналитики, исследователи.

Инструменты анализа, применяемые в K2 System – это контрольные карты Шухарта, при помощи которых анализируется управляемость процесса, и гистограммы, при помощи которых анализируется воспроизводимость технологического процесса.

В состав комплекса K2 System входят два варианта программы K2: конструкторский и пользовательский. Первый вариант сдержит все необходимые средства для настройки состава и свойств анализируемых параметров, а также инструментов анализа. Второй вариант позволяет только пользоваться результатами настройки и издавать отчеты, по заранее подготовленному шаблону.


Параметры и анализаторы

K2 System позволяет одновременно анализировать произвольное количество параметров. Источниками значений для параметров могут быть:

  • Текстовый файл. Этот вариант используется, как правило, при настройке системы.
  • Любой ODBC – источник, включая базу данных, или электронные таблицы. Этот вариант может использоваться для отладки, в исследовательских работах, в постфактум – анализе технологического процесса. Выборка данных из ODBC – источника производится по времени/дате, а также по любым другим условиям поиска.
  • Система сбора данных ES/D2 . Этот вариант используется для непрерывного автоматического контроля технологического процесса.

Каждому параметру может быть сопоставлено произвольное количество инструментов анализа – графики, гистограммы, контрольные карты Шухарта.

K2

Одному параметру может быть сопоставлено несколько однотипных анализаторов. Например, несколько контрольных карт Шухарта с разной степенью усреднения значений в выборках. Это позволяет отслеживать различные вариации, проявляющиеся при различной «разрешающей способности» контрольных карт.

На рисунке ниже показан диалог свойств контрольных карт.

Свойства карты Шухарта

С его помощью можно регулировать различные аспекты контрольных карт:

  • Разрешающую способность,
  • Вид карт (только средние, средние и стандартные отклонения, средние и размахи),
  • Контрольные границы,
  • Набор критериев для обнаружения сингулярностей.

На рисунке ниже показан диалог свойств гистограмм.

Свойства гистограммы

Отчеты

Конструкторская версия K2 позволяет создавать шаблоны отчетов – свести в единый документ результаты работы произвольного количества анализаторов различных параметров.

Конструкторская и пользовательская версии K2 позволяют строить по этим шаблонам отчеты, наполненные актуальными данными, и выдавать их на печать.


© АО «ИНТЕРФЕЙС», 1994-2019. Все права защищены. При использовании материалов сайта ссылка на ресурс обязательна.


Rambler's Top100